干涉电介质反射镜对于激光辐射作用的强度 |
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引用本文: | 金林法.干涉电介质反射镜对于激光辐射作用的强度[J].激光与光电子学进展,1979,16(6):17. |
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作者姓名: | 金林法 |
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作者单位: | 金林法:
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摘 要: | 研究了在单次和周期的激光脉冲辐射作用下,对TiO2和SiO2多层电介质反射镜的破坏。测量了破坏阈值,并发现了对激光辐射波长有较小反射率的反射镜在重复频率条件下破坏阈值减小。表明了,无论是单层TiO2薄膜,还是TiO2和SiO2多层薄膜的破坏阈值都是由TiO2薄膜表面层的强度来决定的。还研究了在TiO2膜层界面上,辐射强度的变化对破坏阈值的影响,这种影响是与激光辐射波长的变动有关。
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