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基于高频损耗比的干式空心电抗器制造缺陷检测方法及应用探讨
引用本文:葛计彬,张波,郝文光,卞震洪,吴宝春,张天.基于高频损耗比的干式空心电抗器制造缺陷检测方法及应用探讨[J].变压器,2021,58(11):61-64.
作者姓名:葛计彬  张波  郝文光  卞震洪  吴宝春  张天
作者单位:北京电力设备总厂有限公司,北京102401;国网浙江省电力有限公司检修公司,浙江杭州310000
摘    要:本文通过分析电抗器因制造工艺导致少匝和极限工艺偏差时600Hz损耗,提出高频损耗可作为电抗器制造缺陷的检测手段及其适用范围,并以600Hz的实测损耗与理论损耗之比是否超过1.5作为判据,以同组任两台损耗之比是否超过1.5作为辅助判据,同时列举应用实例.

关 键 词:干式空心电抗器  制造缺陷  高频损耗

Discussion on Method and Application of Defect Detection for Dry Air Reactor Based on High Frequency Loss Ratio
GE Ji-bin,ZHANG Bo,HAO Wen-guang,BIAN Zhen-hong,WU Bao-chun,ZHANG Tian.Discussion on Method and Application of Defect Detection for Dry Air Reactor Based on High Frequency Loss Ratio[J].Transformer,2021,58(11):61-64.
Authors:GE Ji-bin  ZHANG Bo  HAO Wen-guang  BIAN Zhen-hong  WU Bao-chun  ZHANG Tian
Abstract:
Keywords:
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