| 污秽对红外成像法测零值绝缘子影响的有限元分析 |
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| 引用本文： | 王欣,李凯迪,陈凡辉,钱平,尹骏刚,周友维,姚建刚.污秽对红外成像法测零值绝缘子影响的有限元分析[J].绝缘材料,2019,52(1):84-90. |
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| 作者姓名： | 王欣 李凯迪 陈凡辉 钱平 尹骏刚 周友维 姚建刚 |
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| 作者单位： | 湖南大学电气与信息工程学院,湖南长沙,410082;国网浙江省电力有限公司,浙江杭州,310007 |
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| 基金项目： | 浙江省电力有限公司科研基金项目 |
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| 摘 要： | 为研究污秽对绝缘子串电压分布及红外热像法测零值绝缘子的影响,以110 kV绝缘子串为例,采用有限元分析方法对不同污秽条件下含零值及正常绝缘子串的电压分布进行了多组仿真对比试验。结果表明:零值绝缘子位于两端比位于中部对绝缘子串电压分布的影响更大;随着等值盐密的增大,绝缘子串电压分布趋于均匀,零值绝缘子负温升特征的显著性有所下降;绝缘子串下表面覆污时的电压分布比上表面覆污时更均匀;当两端污秽度大时,绝缘子串的分布电压在中部最高。
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| 关 键 词： | 覆污绝缘子 电位分布 有限元法 三维模型 不均匀性 |
Finite Element Analysis on Influence of Pollution on Detecting Faulty Insulators by Infrared Imaging Method |
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| WANG Xin,LI Kaidi,CHEN Fanhui,QIAN Ping,YIN Jungang,ZHOU Youwei,YAO Jiangang.Finite Element Analysis on Influence of Pollution on Detecting Faulty Insulators by Infrared Imaging Method[J].Insulating Materials,2019,52(1):84-90. |
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| Authors: | WANG Xin LI Kaidi CHEN Fanhui QIAN Ping YIN Jungang ZHOU Youwei YAO Jiangang |
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| Affiliation: | (College of Electrical and Information Engineering,Hunan University,Changsha 410082,China;State Grid Zhejiang Electric Power Company,Hangzhou 310007,China) |
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| Abstract: | WANG Xin;LI Kaidi;CHEN Fanhui;QIAN Ping;YIN Jungang;ZHOU Youwei;YAO Jiangang(College of Electrical and Information Engineering,Hunan University,Changsha 410082,China;State Grid Zhejiang Electric Power Company,Hangzhou 310007,China) |
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| Keywords: | contaminated insulators potential distribution finite element method three-dimensional model non-uniformity |
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