首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

带微机的可靠性寿命试验仪
引用本文:杨晓林,何嘉斌,李东平.带微机的可靠性寿命试验仪[J].电测与仪表,1985(5).
作者姓名:杨晓林  何嘉斌  李东平
作者单位:华中工学院汉口分院,武汉市二轻科研所,武汉三五仪表厂
摘    要:本文介绍的带微机可靠性寿命试验仪可用来对安装式电表或低压电器的使用寿命、短期过载能力等可靠性指标进行试验。文章介绍了其特点、结构、硬件、软件组成及主程序框图,并对其中一些特殊功能电路作了简要说明。

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号