首页
|
官方网站
微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
带微机的可靠性寿命试验仪
引用本文:
杨晓林,何嘉斌,李东平.带微机的可靠性寿命试验仪[J].电测与仪表,1985(5).
作者姓名:
杨晓林
何嘉斌
李东平
作者单位:
华中工学院汉口分院,武汉市二轻科研所,武汉三五仪表厂
摘 要:
本文介绍的带微机可靠性寿命试验仪可用来对安装式电表或低压电器的使用寿命、短期过载能力等可靠性指标进行试验。文章介绍了其特点、结构、硬件、软件组成及主程序框图,并对其中一些特殊功能电路作了简要说明。
本文献已被
CNKI
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号-23
京公网安备 11010802026262号