| 低功耗单输入跳变测试理论的研究 |
| |
| 引用本文： | 王义,傅兴华.低功耗单输入跳变测试理论的研究[J].微电子学与计算机,2009,26(2). |
| |
| 作者姓名： | 王义 傅兴华 |
| |
| 作者单位： | 1. 贵州大学电子信息工程学院,贵州,贵阳,550025;贵州师范大学理学院,贵州,贵阳,550001
2. 贵州大学电子信息工程学院,贵州,贵阳,550025 |
| |
| 摘 要： | 介绍一种随机单输入跳变(RSIC)低功耗测试方案.基本原理是在原线性反馈移位寄存器(LFSR)的基础上加入代码转换电路,对LFSR输出的随机测试向量进行变换,从而得到随机单输入跳变测试序列,可以在不损失故障覆盖率的前提下,降低被测电路的开关翻转活动率,实现测试期间的低功耗.文中给出了RSIC测试序列的生成准则,以CC4028集成电路为被测电路作了研究,结果表明在进行低功耗测试时,单输入跳变测试序列比多输入跳变测试序列更加有效,在不影响故障覆盖率的情况下可以将开关翻转活动率降低到58%,证实了该方案的实用性.
|
| 关 键 词： | 低功耗设计 测试生成器 随机单输入跳变 线性反馈移位寄存器 译码器 |
Research on A Low Power Consumption for Random Single Input Change Test Theory |
| |
| WANG Yi,FU Xing-hua.Research on A Low Power Consumption for Random Single Input Change Test Theory[J].Microelectronics & Computer,2009,26(2). |
| |
| Authors: | WANG Yi FU Xing-hua |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
