封闭壳体X射线屏蔽效能测量方法 |
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引用本文: | 罗剑辉,周海生,马戈,黑东炜,魏福利,徐曦.封闭壳体X射线屏蔽效能测量方法[J].核技术,2014(12):8-12. |
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作者姓名: | 罗剑辉 周海生 马戈 黑东炜 魏福利 徐曦 |
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作者单位: | 西北核技术研究所;强脉冲辐射模拟与效应研究国家重点实验室;中国工程物理研究院电子工程研究所 |
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基金项目: | 总装装备预研重点基金项目(No.914A11050910ZW501)资助 |
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摘 要: | 针对X射线辐照环境中抗辐射加固技术研究的需求,建立了一种适用于电子系统封闭外壳的X射线屏蔽效能测量方法。以X射线机的轫致辐射输出为基础,通过滤波和多个连续谱的组合,实现了接近考核能谱的辐照X射线输出;利用Li F热释光探测器的优势,研究了X射线能量响应标定和屏蔽效能测量的应用方法。重点开展了20–100 ke V硬X射线辐照下封闭腔体屏蔽效能测量的实验研究,测量结果显示,除照射方向上的穿透X射线外,散射X射线对腔体内部剂量场具有显著的贡献。通过实验方法的建立和测量结果的分析,能为X射线抗辐射加固的结构设计和有效性评估提供实验参考。
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关 键 词: | X射线 能谱构造 封闭壳体 屏蔽效能 热释光探测器 |
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