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| 多时钟域并行测试控制器的设计 | |
| 作者单位： | ;1.北京大学软件与微电子学院 |
| 摘 要： | 采用了IEEE1149中TAP控制器的概念与IEEE1500 wrapper的概念相结合,设计出一款基于IEEE1500测试标准同时兼容IEEE1149测试标准的测试控制器,并设计了满足不同时钟域同时并行配置通用寄存器的功能,可以节省多个时钟域串行配置寄存器的时间,提高了测试效率。结果中的verdi仿真图表明文章所设计的测试结构达到了预期。 |
| 关 键 词： | IEEE1500标准 IEEE1149标准 TAP wrapper 测试 |
Design of parallel test controller applied to multiple clock domains |
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