| 基于缺陷相似度与再分配图的软件缺陷分配方法 |
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| 引用本文： | 史高翔,赵逢禹.基于缺陷相似度与再分配图的软件缺陷分配方法[J].计算机科学,2016,43(11):246-251. |
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| 作者姓名： | 史高翔 赵逢禹 |
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| 作者单位： | 上海理工大学光电信息与计算机工程学院 上海200093,上海理工大学光电信息与计算机工程学院 上海200093 |
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| 摘 要： | 准确地将缺陷分配给最合适的修复者对大型软件项目的缺陷修复具有重要意义。当前缺陷自动分配技术的研究主要利用历史缺陷报告的描述信息、缺陷关联信息、历史分派信息等,但这些方法都没有将缺陷报告信息充分挖掘。提出在缺陷报告分配时将缺陷历史分派信息和缺陷文本相似信息相结合。首先根据缺陷历史分派信息生成再分配图；然后计算新缺陷报告与历史缺陷报告缺陷的文本相似度,找出相似度最高的前K个缺陷报告所对应的修复者；最后,根据这些修复者在再分配图中的依赖关系生成预测再分配路径。为了验证该方法的有效性,利用Eclipse和Mozilla的缺陷报告集进行实验,实验表明提出的方法在预测的准确度上明显优于其他方法。
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| 关 键 词： | 历史缺陷报告 缺陷相似度 再分配图 预测再分配路径 |
| 收稿时间： | 2015/11/1 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2016/1/26 0:00:00 |
Software Defect Assignment Method Based on Defect Similarity and Tossing Graph |
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| SHI Gao-xiang and ZHAO Feng-yu.Software Defect Assignment Method Based on Defect Similarity and Tossing Graph[J].Computer Science,2016,43(11):246-251. |
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| Authors: | SHI Gao-xiang and ZHAO Feng-yu |
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| Affiliation: | School of Optical-Electrical and Computer Engineering,University of Shanghai for Science and Technology,Shanghai 200093,China and School of Optical-Electrical and Computer Engineering,University of Shanghai for Science and Technology,Shanghai 200093,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Historical bug report Defect similarity Tossing graph Predicted assignment path |
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