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| 超导体低频交流损耗的测量 | |
| 引用本文： | 徐延康,李肖苏,孙兴来,卜玉顺,王小平,张学旺.超导体低频交流损耗的测量[J].稀有金属,1982(1). |
| 作者姓名： | 徐延康 李肖苏 孙兴来 卜玉顺 王小平 张学旺 |
| 作者单位： | 冶金部有色金属研究总院 (徐延康，李肖苏，孙兴来，卜玉顺，王小平)，冶金部有色金属研究总院(张学旺) |
| 摘 要： | 本文介绍了采用威尔逊(Wilson)电测法对多股细芯Nb-Ti超导体低频(0.01～0.5Hz)交流损耗进行的测量。得出了线圈型样品交流损耗与峰值磁场、励磁频率,材料扭矩,基体材料,细芯直径诸量间的依赖关系。分析了励磁速度对样品线圈最大场的影响。实验表明:结果与理论予言基本一致,数据重复性在90％以上,整个系统测量误差小于10％。 |
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