| 大陆中、下地壳电学特征实验研究 |
| |
| 引用本文： | 朱茂旭,谢鸿森.大陆中、下地壳电学特征实验研究[J].地质科技情报,1999,18(4):97-102. |
| |
| 作者姓名： | 朱茂旭 谢鸿森 |
| |
| 作者单位： | 中国科学院贵阳地球化学研究所,贵阳,550002 |
| |
| 摘 要： | 高温高压下地壳物质电导率的实验室测定是研究大陆中、下地壳高导层成因的重要方法之一。研究表明，水、石墨、部分熔融以及矿物脱水可能形成地高导层，在不同构造环境和深度下这些机制起着不同的作用。为解决中地壳高导层成因的水的存在是必不可少的条件，在地下壳、水、石墨、部分熔融以及矿物脱水，甚至持定的干的下地壳岩石都可解释大地电磁测量结果。
|
| 关 键 词： | 大陆中 下地壳 电导率 高导层 高温高压 |
ELECTRICAL PROPERTY EXPERIMENTAL STUDIES ON THE MID AND LOWER CO NTINENTAL CRUST |
| |
| Zhu Maoxu,Xie Hongsen.ELECTRICAL PROPERTY EXPERIMENTAL STUDIES ON THE MID AND LOWER CO NTINENTAL CRUST[J].Geological Science and Technology Information,1999,18(4):97-102. |
| |
| Authors: | Zhu Maoxu Xie Hongsen |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
