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xFe-Al2O3颗粒薄膜的XRD分析和GMR效应
引用本文:艾尔肯·阿不列木,甫尔开提·夏尔丁  哈里木拉提·阿扎提.xFe-Al2O3颗粒薄膜的XRD分析和GMR效应[J].功能材料,2004,35(Z1):637-638.
作者姓名:艾尔肯·阿不列木  甫尔开提·夏尔丁  哈里木拉提·阿扎提
作者单位:艾尔肯·阿不列木(新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046);甫尔开提·夏尔丁(新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046);哈里木拉提·阿扎提(新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046)
摘    要:对rf溅射法制备的xFe-Al2O3颗粒薄膜,应用X射线衍射仪(XRD)进行了测试和分析,推算了不同样品中Fe粒子的大小和元素面积比.并使用4探针外加磁场法对薄膜的巨磁阻效应进行了分析和讨论.当Fe面积比约为25%时,样品的磁电阻率在1.5T磁场下可达-2.3%.

关 键 词:溅射法  颗粒薄膜  巨磁阻  X-射线衍射
文章编号:1001-9731(2004)增刊-0637-02
修稿时间:2004年5月9日

XRD analysis and GMR effect of granular films xFe-Al2O3
Aierken·Abuliemu.XRD analysis and GMR effect of granular films xFe-Al2O3[J].Journal of Functional Materials,2004,35(Z1):637-638.
Authors:Aierken·Abuliemu
Abstract:
Keywords:
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