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| BIST可测性设计的低功耗技术 | |
| 引用本文： | 李金凤,汪滢,辛晓宁.BIST可测性设计的低功耗技术[J].仪器仪表学报,2003,24(Z2):629-630. |
| 作者姓名： | 李金凤 汪滢 辛晓宁 |
| 作者单位： | 1. 沈阳化工学院信息工程学院,沈阳,110142 2. 沈阳化工学院信息工程学院,沈阳,110142;中科院沈阳自动化研究所,沈阳,110016 |
| 摘 要： | 在BIST测试过程中,测试电路的加入使得数字系统的功耗明显加大,低功耗的BIST设计得到人们的广泛关注.本文介绍几种BIST的低功耗设计技术,各种方法的综合应用会使系统的功耗指标达到最佳. |
| 关 键 词： | 内建自检测 片上系统 可测性 低功耗 故障覆盖率 |
Low Power Technology of BIST Testability Design |
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