基于ROI的银触点模板匹配缺陷的检测法 |
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引用本文: | 刘好洁,杨建玺,赵远方,白连胜.基于ROI的银触点模板匹配缺陷的检测法[J].机械设计与制造,2020(2):195-198,202. |
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作者姓名: | 刘好洁 杨建玺 赵远方 白连胜 |
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作者单位: | 河南科技大学机电工程学院,河南 洛阳,471003 |
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基金项目: | 企业合作项目资助;河南省科技攻关计划;河南省高性能轴承技术重点实验室开发基金项目 |
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摘 要: | 银触点广泛应用于各种电子元器件中,其表面要求覆盖银层完整光亮,但在生产中表面会出现多种缺陷难以检测而影响使用。为保证其出厂的零缺陷,提出了基于ROI的银触点模板匹配缺陷检测方法。通过对图像进行形态学处理,保证了整张图像的低噪声,根据银触点的表面外形特征,优化了模板匹配的搜索路径,实现了自动选取目标。凸包运算后准确做出圆形区域的最小外接矩形ROI,通过位址映射求出最小外接矩形的位置,得到信息完整的原图ROI。将模板ROI与实时ROI进行去均值归一化相关匹配,计算两幅图像的相似度。通过大量实验得出合格约束相似度,对比人工分拣与机器视觉ROI模板匹配的分拣误差,得出基于ROI的银触点模板匹配缺陷检测方法,符合银触点的出厂要求。
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关 键 词: | ROl 模板匹配 搜索 相似度 |
A Detection Method for Matching Defects of Silver Contact Template Based on ROI |
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