| Super-RENS超分辨光存储实验研究 |
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| 引用本文： | 刘嵘,齐国生,徐端颐,佘鹏,雷志军.Super-RENS超分辨光存储实验研究[J].光电子．激光,2003,14(9):929-932. |
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| 作者姓名： | 刘嵘 齐国生 徐端颐 佘鹏 雷志军 |
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| 作者单位： | 清华大学光盘国家工程研究中心,北京,100084 |
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| 基金项目： | 国家重点基础研究发展规划"973"资助项目(G19990330) |
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| 摘 要： | 实验在基于传统相变光盘(CD-R／W)的测试系统上进行。在一定的写入功率和脉宽条件下对super-RENS样片进行静态记录,并和传统CD-R／W作对比实验,用扫描电镜(SEM)观察两种盘结构上的记录点,从微观形貌、尺寸参数等方面进行深入研究比较。实验结果表明,使用相同的记录系统和在完全相同的写入条件下,super-RENS上的记录符小于CD-R／W上的记录符,尺寸减小可达40％。
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| 关 键 词： | super-RENS样片 记录符 超分辨光存储 衍射极限 掩膜夹层 相变记录介质 |
| 文章编号： | 1005-0086(2003)09-0929-04 |
| 修稿时间： | 2003年1月16日 |
Experiment Study on Super-RENS Optical Storage |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | super resolution using near-field structure(super-RENS) diffraction limit mask layer phase change media |
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