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基于卷积神经网络的数码印花缺陷分类算法
引用本文:苏泽斌,高敏,李鹏飞,景军锋,张缓缓.基于卷积神经网络的数码印花缺陷分类算法[J].激光与光电子学进展,2020,57(24):128-136.
作者姓名:苏泽斌  高敏  李鹏飞  景军锋  张缓缓
作者单位:西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048;西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048;西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048;西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048;西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048
基金项目:陕西省教育厅科学研究项目;陕西省重点研发计划
摘    要:

关 键 词:图像处理  卷积神经网络  缺陷分类  数码印花
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
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