基于卷积神经网络的数码印花缺陷分类算法 |
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引用本文: | 苏泽斌,高敏,李鹏飞,景军锋,张缓缓.基于卷积神经网络的数码印花缺陷分类算法[J].激光与光电子学进展,2020,57(24):128-136. |
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作者姓名: | 苏泽斌 高敏 李鹏飞 景军锋 张缓缓 |
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作者单位: | 西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048;西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048;西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048;西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048;西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048 |
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基金项目: | 陕西省教育厅科学研究项目;陕西省重点研发计划 |
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摘 要: |
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关 键 词: | 图像处理 卷积神经网络 缺陷分类 数码印花 |
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