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低压电容铝箔的成分、热处理、显微结构和比电容之间关系的研究
引用本文:张伟斌,郑子樵,江峰.低压电容铝箔的成分、热处理、显微结构和比电容之间关系的研究[J].材料科学与工艺,1982(1).
作者姓名:张伟斌  郑子樵  江峰
作者单位:中南矿冶学院,中南矿冶学院,中南矿冶学院
摘    要:本文评述了低压电容铝箔的成分、热处理、显微结构和比电容之间的关系,所得结论是:(1) 硬态高纯铝箔由于有高的位错密度,在腐蚀、形成之后的比电容比退火铝箔高;(2)高纯铝箔经过适当热处理后的比电容,随表面立方织构分数的增加而增大;(3)某些微量元素使退火高纯铝箔的位错密度和表面立方织构分数都得到增加,因而更有效地增大其比电容;(4)退火铝和铝合金箔的晶粒尺寸对比电容没有明显影响。

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