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掺Sn的In2O3透明导电膜生长优先取向对其光电性能的影响
引用本文:陈瑶,周玉琴,张群芳,朱美芳,刘丰珍,刘金龙,陈诺夫.掺Sn的In2O3透明导电膜生长优先取向对其光电性能的影响[J].半导体学报,2007,28(6):883-886.
作者姓名:陈瑶  周玉琴  张群芳  朱美芳  刘丰珍  刘金龙  陈诺夫
作者单位:中国科学院研究生院 物理科学学院,北京 100049;中国科学院研究生院 物理科学学院,北京 100049;中国科学院研究生院 物理科学学院,北京 100049;中国科学院研究生院 物理科学学院,北京 100049;中国科学院研究生院 物理科学学院,北京 100049;中国科学院研究生院 物理科学学院,北京 100049;中国科学院半导体研究所 半导体材料科学重点实验室,北京 100083
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划) , 国家自然科学基金
摘    要:采用反应热蒸发法制备掺Sn的In2O3(ITO)透明导电膜,系统研究了ITO薄膜生长的优先取向对其光电性能的影响.结果表明,ITO薄膜(400)取向的优先生长对其透过率影响很小,但可明显增加载流子迁移率,从而有效降低了薄膜的方块电阻.在两个相同的薄膜硅/单晶硅太阳能电池上分别沉积(222)和(400)ITO优先取向膜,光电转换效率分别为10.3%和12.9%,表明(400)取向更有利于提高电池效率.经优化,最佳衬底温度(Ts)为225℃,最佳氧流量(fO2)为4sccm.在优化的沉积条件下制备ITO薄膜,其电阻率可达到4.8×10-4Ω·cm,可见波段的透过率大于90%,性能指数为3.8×10-2□/Ω.

关 键 词:ITO薄膜  反应热蒸发  优先取向  性能指数  透明导电膜  长优  取向膜  光电性能  影响  Thin  Film  Properties  Orientation  性能指数  波段  电阻率  沉积条件  氧流量  衬底温度  最佳  优化  电池效率  转换效率  单晶硅太阳能电池  薄膜硅

Effect of Growth-Preferred Orientation on the Photoelectric Properties of ITO Thin Film
Chen Yao,Zhou Yuqin,Zhang Qunfang,Zhu Meifang,Liu Fengzhen,Liu Jinlong and Chen Nuofu.Effect of Growth-Preferred Orientation on the Photoelectric Properties of ITO Thin Film[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(6):883-886.
Authors:Chen Yao  Zhou Yuqin  Zhang Qunfang  Zhu Meifang  Liu Fengzhen  Liu Jinlong and Chen Nuofu
Affiliation:College of Physical Sciences,Graduate University of the Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;College of Physical Sciences,Graduate University of the Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;College of Physical Sciences,Graduate University of the Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;College of Physical Sciences,Graduate University of the Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;College of Physical Sciences,Graduate University of the Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;College of Physical Sciences,Graduate University of the Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;Key Laboratory of Semiconductor Materials Science,Institute of Semiconductors,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100083,China
Abstract:
Keywords:ITO film  reactive thermal evaporation  preferred orientation  figure of merit
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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