微波消解-氢化物发生原子荧光光谱法测定化妆品中的锗 |
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引用本文: | 张锂,韩国才.微波消解-氢化物发生原子荧光光谱法测定化妆品中的锗[J].中国卫生检验杂志,2006,16(1):55-56. |
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作者姓名: | 张锂 韩国才 |
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作者单位: | 1. 西北师范大学化学化工学院,兰州,730070;兰州工业高等专科学校,基础学科部,兰州,730050 2. 兰州工业高等专科学校,基础学科部,兰州,730050 |
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摘 要: | 目的:建立氧化物发生原于荧光光谱法测定化妆品中的锗。方法:采用微波密闭消解的方法,研究了在磷酸介质下.锗与硼氢化钾生成氢化物的反应行为,并对影响荧光强度的诸因素进行了试验和探讨。结果:方法线性范围0~100μg/L,检出限为0.02μg/g,对0.5μg/和1.0μg/L的锗标准溶液连续11次测定的相对标准偏差为2.9%和1.5%。结论:本法灵敏度高、检出限低,应用于化妆品样品的测定并与其它方法相比较,结果满意。
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关 键 词: | 氢化物发生 原子荧光光谱法 化妆品 锗 |
文章编号: | 1004-8685(2006)01-0055-02 |
收稿时间: | 2005-09-12 |
修稿时间: | 2005年9月12日 |
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