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射频磁控溅射制备的ZnMgO薄膜结构和光学性能
引用本文:黄秋柳.射频磁控溅射制备的ZnMgO薄膜结构和光学性能[J].上海电力学院学报,2010(7).
作者姓名:黄秋柳
作者单位:重庆大学应用物理系;重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室;
基金项目:国家自然科学基金资助项目(50975301); 重庆大学研究生创新基金资助项目(200801A1B0060265); 重庆大学“211工程”三期创新人才培养计划建设资助项目(S-09109); 重庆大学大型仪器设备开放基金资助
摘    要:采用射频磁控溅射法,在石英衬底上制备了Zn1-xMgxO(x=0.00~0.16)薄膜。利用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、紫外-可见分光光度计和光致发光(PL)光谱等分析了薄膜的结构、形貌和光学特性。结果表明:当x≤0.10时薄膜保持六角纤锌矿结构,而x=0.16时已出现MgO立方相;所有薄膜晶粒大小均匀,在100~150 nm之间;透光率在80%以上;薄膜带隙Eg与Mg含量呈线性关系;薄膜PL谱由较弱的紫外发光峰和较强的可见发光带组成,随Mg含量的增加紫外发光峰蓝移。

关 键 词:ZnMgO  ZnO  晶体结构  光学性能  磁控溅射  

Structure and optical properties of ZnMgO thin films prepared by RF magnetron sputtering
HUANG Qiu-liu.Structure and optical properties of ZnMgO thin films prepared by RF magnetron sputtering[J].Journal of Shanghai University of Electric Power,2010(7).
Authors:HUANG Qiu-liu
Affiliation:Department of Applied Physics,Chongqing University,Chongqing 400044,China,
Abstract:A series of Zn1-xMgxO(x=0.00-0.16) films have been prepared on quartz substrates by RF magnetron sputtering.Several characterization techniques,including X-ray diffraction(XRD),scanning electron microscope(SEM),UV-Vis spectrophotometer,and photoluminescence measurement,have been used to investigate the crystal structure,surface morphology,and optical properties of the films,respectively.The results reveal that the obtained films with Mg content x up to about 0.1 are without phase separation;the films are un...
Keywords:ZnMgO  ZnO  crystal structure  optical property  magnetron sputtering  
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