| 水含量对PI/SiO2纳米杂化薄膜微观结构的影响 |
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| 引用本文： | 牛颖,张明艳.水含量对PI/SiO2纳米杂化薄膜微观结构的影响[J].绝缘材料,2011,44(3):60-63. |
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| 作者姓名： | 牛颖 张明艳 |
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| 作者单位： | 1. 大庆医学高等专科学校,化学教研室,黑龙江,大庆,163312
2. 哈尔滨理工大学,材料科学与工程学院,哈尔滨,150040 |
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| 摘 要： | 用溶胶-凝胶法合成了聚酰亚胺/二氧化硅(PI/SiO<,2>)纳米杂化薄膜,并采用傅立叶变换红外光谱(FT-IR)和扫描电子显微镜(SEM)分析水含量对PI/SiO<,2>杂化薄膜的化学结构和微观结构的影响.结果表明:水含量对PI/SiO<,2>微观结构影响很大.当SiO<,2>与水含量摩尔比为1:6时,SiO<,2>...
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| 关 键 词： | 聚酰亚胺 二氧化硅 纳米杂化 水含量 微观形貌 |
Effect of Deionized Water Content on the Microstructure of PI/SiO2 Nano-hybrid Films |
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| Niu Ying,Zhang Mingyan.Effect of Deionized Water Content on the Microstructure of PI/SiO2 Nano-hybrid Films[J].Insulating Materials,2011,44(3):60-63. |
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| Authors: | Niu Ying Zhang Mingyan |
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