基于ATE的可编程高集成度SIP芯片测试技术研究

随着可编程系统级电路的内部器件数量和规模的不断增长，SIP内部器件的可测性问题也变得越来越突出。提出了一种基于ATE的SIP测试方法，并对其FPGA、 DSP配置、功能调试和参数测试方法进行了介绍。该测试方法准确、系统、效率高，可以满足大部分可编程高集成度SIP电路的测试需求。