首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

FLAIR序列T2WI上蛛网膜下腔内高信号:机制、常见疾病和原因
引用本文:张德生.FLAIR序列T2WI上蛛网膜下腔内高信号:机制、常见疾病和原因[J].国外医学:临床放射学分册,2006,29(6):370-373,383.
作者姓名:张德生
作者单位:第二军医大学附属长征医院影像科,200003
摘    要:液体衰减反转恢复(FLAIR)序列T2WI上蛛网膜下腔(SAS)内出现高信号的原因繁多,机制复杂,不仅会出现在许多不同的疾病中,而且可由吸入高浓度氧、使用顺磁性对比剂和各种伪影造成,相互交织重叠,需认真分析、鉴别。总结了近年文献中FLAIR序列T2WI上SAS内出现高信号的各种因素及其产生机制,以提高诊断和鉴别诊断水平,并拓展其应用范围。

关 键 词:磁共振成像  液体衰减反转恢复  蛛网膜下腔
收稿时间:2006-04-21
修稿时间:2006-04-21
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号