FLAIR序列T2WI上蛛网膜下腔内高信号:机制、常见疾病和原因 |
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引用本文: | 张德生.FLAIR序列T2WI上蛛网膜下腔内高信号:机制、常见疾病和原因[J].国外医学:临床放射学分册,2006,29(6):370-373,383. |
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作者姓名: | 张德生 |
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作者单位: | 第二军医大学附属长征医院影像科,200003 |
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摘 要: | 液体衰减反转恢复(FLAIR)序列T2WI上蛛网膜下腔(SAS)内出现高信号的原因繁多,机制复杂,不仅会出现在许多不同的疾病中,而且可由吸入高浓度氧、使用顺磁性对比剂和各种伪影造成,相互交织重叠,需认真分析、鉴别。总结了近年文献中FLAIR序列T2WI上SAS内出现高信号的各种因素及其产生机制,以提高诊断和鉴别诊断水平,并拓展其应用范围。
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关 键 词: | 磁共振成像 液体衰减反转恢复 蛛网膜下腔 |
收稿时间: | 2006-04-21 |
修稿时间: | 2006-04-21 |
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