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| 电子系统和设备的外场可靠性评估 | |
| 引用本文： | 巨向斌,郑耀耀.电子系统和设备的外场可靠性评估[J].电光系统,2008(4). |
| 作者姓名： | 巨向斌 郑耀耀 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第二十七研究所,郑州450015 |
| 摘 要： | 可靠性是电子设备的重要属性，可靠性试验技术是可靠性工程中的一个重要环节，可靠性外场评估试验是一些大型系统和设备定型设计中仅能采用的可靠性鉴定方法。文章介绍了电子系统和设备的可靠性参数与指标、外场可靠性试验的评估模型、可靠性数据的处理和解释，最后提出了有关电子系统外场可靠性评估的建议。 |
| 关 键 词： | 电子系统和设备 可靠性鉴定与验收试验 外场试验评估 点估计值 置信区间 泊松分布 Chi-Square分布 |
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