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X线头影测量不调值对口腔正畸诊断的影响
引用本文:冯兴梅,倪桂凤,沈小波,张健,姚淑萍.X线头影测量不调值对口腔正畸诊断的影响[J].中国交通医学杂志,2007,21(6):741-741.
作者姓名:冯兴梅  倪桂凤  沈小波  张健  姚淑萍
作者单位:南通大学附属医院口腔科 江苏226001
摘    要:目的:探讨X线头影测量不调值对正畸诊断的影响。方法:对41例正畸病例进行模型分析(牙弓长度拥挤度s、pee's曲线、Bolton指数、上下第一磨牙的关系的分析、测量)及头颅定位侧位片FMIA值的测量,计算X线头影测量不调值=(57-FMIA)×0.8。结果:仅作模型分析和模型分析结合X线头颅定位侧位片FMIA值的测量两种计算值对正畸诊断结果差异有统计学意义。结论:下颌拥挤的总体不调值应加上X线头影测量不调值。

关 键 词:X线头影测量  模型分析  FMIA值  口腔正畸
文章编号:1006-2440(2007)06-0741-01
收稿时间:2007-11-02
修稿时间:2007年11月2日
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