| 针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术 |
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| 引用本文： | 张民选,张承义,王永文,高军.针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术[J].计算机工程与科学,2002,24(4):68-70. |
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| 作者姓名： | 张民选 张承义 王永文 高军 |
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| 作者单位： | 国防科技大学计算机学院,湖南,长沙,410073 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金重点项目资助 (6993 3 0 3 0 )，国家“八六三”高技术研究发展计划基金 (863 3 0 6 ZD11 0 1 1)，教育部“跨世纪优秀人才培养计划基金”资助项目 (教技函 [2 0 0 0 ] 1号文件 ) |
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| 摘 要： | 本文提出了一种简洁有效的，针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术，可消除部分不可测故障，提高故障覆盖率。
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| 关 键 词： | ASIC 记忆部件 易测试性设计 专用大规模集成电路 故障覆盖率 |
| 文章编号： | 1007-130X(2002)04-0068-03 |
The DFT Technology for the Memory Units in ASIC |
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| ZHANG Min xuan,ZHANG Cheng yi,WANG Yong wen,GAO Jun.The DFT Technology for the Memory Units in ASIC[J].Computer Engineering & Science,2002,24(4):68-70. |
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| Authors: | ZHANG Min xuan ZHANG Cheng yi WANG Yong wen GAO Jun |
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| Abstract: | A new,simple and effective DFT technology for the memory units in ASIC is presented in this paper to test some untestable faults and improve the fault coverage ratio. |
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| Keywords: | ASIC DFT fault coverage ratio |
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