|
|||||
|
|
| 计算机自动测试硅雪崩二极管 | |
| 引用本文： | 王德宁,陈瑞璋,陈莲勇,陈启玙,何梁昌.计算机自动测试硅雪崩二极管[J].半导体技术,1983(2). |
| 作者姓名： | 王德宁 陈瑞璋 陈莲勇 陈启玙 何梁昌 |
| 作者单位： | 科学院上海冶金研究所 (王德宁，陈瑞璋，陈莲勇，陈启玙)，科学院上海冶金研究所(何梁昌) |
| 摘 要： | 本文根据Si-APD二极管的测试要求,设计了暗电流、光电流的采样程序,倍增M、响应度S、量子效率η等计算程序,并设计了专用程序:对数程序、数据处理程序和绘图程序。能满意地测定并绘制反向偏压V～暗电流I_D、反向偏压V～光电流I_(pi)和反向偏压V～倍增M曲线。并对一系列有用参数打成表以备查用。最后对程序设计的参数合理性,数据处理的可靠性作了讨论。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
