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RCM-1000型光学式微小线宽测定装置
引用本文:吴秀丽.RCM-1000型光学式微小线宽测定装置[J].光机电信息,1994(5).
作者姓名:吴秀丽
摘    要:该装置是测定半导体集成电路的微细图型线宽用的,采用共焦点光学系统,能够测到0.4μm的线宽,每小时能测40片,能生产出

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