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| 蒙特卡罗法模拟γ谱仪无源效率刻度 | |
| 引用本文： | 姚剑锋,马英杰,刘易鑫.蒙特卡罗法模拟γ谱仪无源效率刻度[J].核电子学与探测技术,2019,39(4). |
| 作者姓名： | 姚剑锋 马英杰 刘易鑫 |
| 作者单位： | 成都理工大学核技术与自动化工程学院,成都,610059 |
| 基金项目： | 国家重点研发计划重点专项;国家自然科学基金 |
| 摘 要： | 介绍了蒙特卡罗模拟和分析计算相结合对γ谱仪进行无源效率刻度的方法。针对点源情况下不同探测器厚度、半径及源探距等几何条件,以及不同面源半径的面源,以蒙特卡罗模拟获得γ谱仪无源效率刻度效率数据作为基准,结合插值法和积分计算,从而实现无源效率刻度。并初步编写了一套与该方法配套无源效率刻度软件。将软件计算结果与蒙特卡罗模拟结果比较,最大相对误差为9.1%。 |
| 关 键 词： | 无源效率刻度 γ能谱测量 蒙特卡罗模拟 探测效率 |
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