| 深亚微米光记录测试仪 |
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| 引用本文： | 陈仲裕,沈俊.深亚微米光记录测试仪[J].测试技术学报,2003,17(4):334-336. |
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| 作者姓名： | 陈仲裕 沈俊 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院,上海光学精密机械研究所,上海,201800
2. 上海大学,计算机工程与科学学院,上海,201800 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金会资助(项目号:59832060) |
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| 摘 要： | 详细描述了进行亚微米、深亚微米光记录和探测的测试仪器，其探测功率可达30mW，最小的探测时间为20ns，探测的最小光点200nm左右，带有CCD观察的系统可方便地定位及进行图像处理，整个测量过程均在计算机控制下进行，操作非常方便，它是对高密度光盘材料记录性能进行测量，以及对深亚微米，乃至纳米记录材料进行研究的有效工具。
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| 关 键 词： | 深亚微米光记录 测试仪器 高密度光盘 光斑测量 |
| 文章编号： | 1671-7449(2003)04-0334-03 |
| 修稿时间： | 2002年3月17日 |
Quasi-Nanometer Optical Recording Instrumentation |
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| CHEN Zhong-yu,SHEN Jun.Quasi-Nanometer Optical Recording Instrumentation[J].Journal of Test and Measurement Techol,2003,17(4):334-336. |
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| Authors: | CHEN Zhong-yu SHEN Jun |
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| Affiliation: | CHEN Zhong-yu~1,SHEN Jun~2 |
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| Abstract: | An instrument used for recording and detecting sub-micron spot is described in this paper. Its output power on the surface of media is about 30 mW, the minimal pulse width is 20 ns, measuring light spot is about 200 nm with a CCD observing and processing system. The overall measuring process is controlled by a computer. The operation is very convenient. Experimental results show that it's an useful equipment for evaluating optical disk media, fabrication technology and nano-material research. |
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| Keywords: | spot measuring sub-micrometer recording high density optical disk testing instrument |
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