CCD挠度测量系统的研究 |
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引用本文: | 孙路,丁杰雄.CCD挠度测量系统的研究[J].实用测试技术,2002,28(1):6-7,11. |
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作者姓名: | 孙路 丁杰雄 |
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摘 要: | 本文介绍利用激光与线阵CCD(charge coupled device)器件进行杵架挠度测量的实用系统。阐述了测量原理,并探讨单片机控制系统,单片机与PC机间远程通讯系统以及PC机控制软件和数据库等。本测量系统是一种挠度测量的新方法,具有普遍的适用性,系统工作可靠。
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关 键 词: | CCD 单片机 挠度测量 桁架 PC机 |
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