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CCD挠度测量系统的研究
引用本文:孙路,丁杰雄.CCD挠度测量系统的研究[J].实用测试技术,2002,28(1):6-7,11.
作者姓名:孙路  丁杰雄
摘    要:本文介绍利用激光与线阵CCD(charge coupled device)器件进行杵架挠度测量的实用系统。阐述了测量原理,并探讨单片机控制系统,单片机与PC机间远程通讯系统以及PC机控制软件和数据库等。本测量系统是一种挠度测量的新方法,具有普遍的适用性,系统工作可靠。

关 键 词:CCD  单片机  挠度测量  桁架  PC机
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