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一种抗辐射加固RS485驱动器的设计
引用本文:高兴国,黄晓宗.一种抗辐射加固RS485驱动器的设计[J].太赫兹科学与电子信息学报,2017,15(3):496-499.
作者姓名:高兴国  黄晓宗
作者单位:No.24th Institute,China Electronics Technology Group Corporation,Chongqing 400060,China and 1.No.24th Institute,China Electronics Technology Group Corporation,Chongqing 400060,China;2.School of Microelectronics and Solid-State Electronics,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu Sichuan 610054,China
摘    要:RS485通信协议要求:RS485驱动器输出短路至-7~12 V时,短路电流应小于250 mA。常规短路保护电路采用高压MOS实现,由于高压MOS栅极氧化层厚度很大,无法满足抗总剂量辐射加固的要求。提出了一种新型的驱动器输出短路保护电路,该电路利用5 V低压MOS管实现,通过合理设计线路、版图,实现了良好的短路保护效果和抗总剂量辐射能力。电路采用0.8 μm SOI CMOS工艺设计实现,常规及辐照测试结果证明了设计的正确性。

关 键 词:RS485驱动器  总剂量辐射效应  抗辐射加固
收稿时间:2015/8/21 0:00:00
修稿时间:2016/1/24 0:00:00

Design of a radiation hardened RS485 driver
GAO Xingguo and HUANG Xiaozong.Design of a radiation hardened RS485 driver[J].Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology,2017,15(3):496-499.
Authors:GAO Xingguo and HUANG Xiaozong
Abstract:
Keywords:
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