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一种实用的ROI区域实时搜索方法
引用本文:余轶,张磊,史金飞.一种实用的ROI区域实时搜索方法[J].中国制造业信息化,2007,36(3):72-76.
作者姓名:余轶  张磊  史金飞
作者单位:东南大学,机械工程系,江苏,南京,210096
摘    要:在开发某企业半导体芯片外观视觉检测项目中,针对搜索ROI区域时,由于待测芯片的倾斜而导致搜索存在偏差甚至错误的问题,实现了一种运用特征小模板对倾斜图像进行匹配和角 度计算并校正图像的方法.利用特征小模板对小角度倾斜不敏感的性质,在半导体的视觉检测 应用中,通过两个小模板的匹配结果对待检测芯片图像进行倾斜校正,然后再进行ROI区域搜 索.在执行时间增加很小的情况下显著提高了精度,保证了后续的各项外观参数检测的实时、准 确与可靠性能.该方法已成功应用在某企业半导体芯片外观视觉检测中,实际运行表明此方法是可靠和成功的.

关 键 词:模板匹配  ROI搜索  倾斜校正  区域  搜索方法  Searching  time  Real  Method  运行  可靠性能  参数检测  精度  情况  时间  倾斜校正  芯片图像  结果  应用  视觉检测  性质  敏感  小角度
文章编号:1672-1616(2007)03-0072-05
修稿时间:2006年7月17日

A Practical Method for Real - time ROI Searching
YU Yi,ZHANG Lei,SHI Jin-fei.A Practical Method for Real - time ROI Searching[J].Manufacture Information Engineering of China,2007,36(3):72-76.
Authors:YU Yi  ZHANG Lei  SHI Jin-fei
Abstract:
Keywords:
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
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