GaAs和(Cs,O)/GaAs热处理工艺的XPS研究 |
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引用本文: | 汪贵华,房红兵.GaAs和(Cs,O)/GaAs热处理工艺的XPS研究[J].真空科学与技术,2003,23(5):307-310. |
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作者姓名: | 汪贵华 房红兵 |
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作者单位: | 南京理工大学电子工程与光电子技术学院,南京210094 |
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摘 要: | 用X射线光电子能谱(XPS)研究了GaAs(100)面基片的化学清洗、热净化、(Cs,O)激活后加热的处理效果。GaAs的氧化过程是:首先,As氧化为低价态,然后Ga被氧化,再就是As氧化为高价。确保样品从刻蚀清洗到超高真空环境中,表面Ga没有被氧化,就可在较低的温度热净化,获得As稳定的且原子级清洁的GaAs表面。净化后GaAs表面Ga含量越高,则(Cs,O)激活后形成氧化物越多,从而形成了界面势垒,使电子逸出概率降低。
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关 键 词: | GaAs X射线光电子能谱 热净化 氧化 激活 |
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