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Windows环境下自动测试系统软件框架设计
引用本文:赵清,于守谦,刘亚斌.Windows环境下自动测试系统软件框架设计[J].微计算机信息,2008,24(13):278-280.
作者姓名:赵清  于守谦  刘亚斌
作者单位:北京航空航天大学,北京,100083
摘    要:随着工业自动化程度的提高以及计算机技术的飞速发展,各种以通用计算机为核心、通用的A/D、D/A、I/O等板卡及各种外围辅助接口电路构成的的自动测试系统逐渐在各种测试应用中占据主要位置.而在这种硬件平台上构建测试系统时,测试系统软件开发成为影响整个系统开发速度的关键.本文描述了在Windows环境下软件框架的建立,并对其中的关键技术进行了讨论.

关 键 词:自动测试系统  软件框架  VC    Windows  环境  动测试系统  软件框架设计  Automatic  Test  System  design  Platform  描述  开发速度  影响  软件开发  硬件平台  位置  测试应用  电路构成  接口  板卡  核心  通用计算机  发展
文章编号:1008-0570(2008)05-1-0278-03
修稿时间:2008年2月3日

The design of Automatic Test System(ATS)Framework on Windows Platform
ZHAO Qing,YU Shou-qian,LIU Ya-bin.The design of Automatic Test System(ATS)Framework on Windows Platform[J].Control & Automation,2008,24(13):278-280.
Authors:ZHAO Qing  YU Shou-qian  LIU Ya-bin
Abstract:
Keywords:
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