硅基SiN_xO_y∶C~+薄膜的光致发光 |
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引用本文: | 廖良生,刘小兵,熊祖洪,何钧,侯晓远.硅基SiN_xO_y∶C~+薄膜的光致发光[J].半导体学报,1998,19(3):172-176. |
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作者姓名: | 廖良生 刘小兵 熊祖洪 何钧 侯晓远 |
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作者单位: | 复旦大学应用表面物理国家重点实验室,李政道物理学综合实验室,长沙电力学院物理系 |
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摘 要: | 采用等离子体增强化学气相淀积法在单晶硅片表面淀积一层厚约120nm的SiNxOy薄膜,并在薄膜中注入C+,注入能量为35keV,剂量为5×1016cm-2.注C+样品在441.6nm的蓝光激发下,可以产生峰值约为550nm的光致发光.样品经600℃退火后,发光强度达到最大.
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