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硅基SiN_xO_y∶C~+薄膜的光致发光
引用本文:廖良生,刘小兵,熊祖洪,何钧,侯晓远.硅基SiN_xO_y∶C~+薄膜的光致发光[J].半导体学报,1998,19(3):172-176.
作者姓名:廖良生  刘小兵  熊祖洪  何钧  侯晓远
作者单位:复旦大学应用表面物理国家重点实验室,李政道物理学综合实验室,长沙电力学院物理系
摘    要:采用等离子体增强化学气相淀积法在单晶硅片表面淀积一层厚约120nm的SiNxOy薄膜,并在薄膜中注入C+,注入能量为35keV,剂量为5×1016cm-2.注C+样品在441.6nm的蓝光激发下,可以产生峰值约为550nm的光致发光.样品经600℃退火后,发光强度达到最大.

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