| 纳米阻抗显微镜的研制及商品化 |
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| 引用本文： | 丁喜冬,关景新,黄龙飞,吴浚瀚.纳米阻抗显微镜的研制及商品化[J].材料工程,2008(10). |
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| 作者姓名： | 丁喜冬 关景新 黄龙飞 吴浚瀚 |
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| 作者单位： | 1. 中山大学,物理科学与工程技术学院,广州,510275
2. 本原纳米仪器有限公司,北京,100080 |
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| 基金项目： | 广东省广州市科技攻关项目 |
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| 摘 要： | 纳米阻抗显微镜(Nanoscale impedance microscopy,NIM)能够测量材料表面的纳米微区阻抗性质,已经成为纳米材料表征的重要工具,得到越来越多的应用;但其应用目前仅局限于实验室范围,而国内尚未有纳米阻抗显微镜研究的文献报道.本文主要介绍纳米阻抗显微镜的基本原理及其仪器的研制.以国内外现有的扫描探针显微镜仪器为基础,研制出了两套不同的纳米阻抗显微镜样机,并率先实现了这种技术的商品化,还利用该技术开展了氧化锌多晶陶瓷材料的应用研究.
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| 关 键 词： | 纳米阻抗 扫描探针显微镜 商品化 |
The Development and Commercialization of Nanoscale Impedance Microscopy |
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| DING Xi-dong,GUAN Jing-xin,HUANG Long-fei,WU Jun-han.The Development and Commercialization of Nanoscale Impedance Microscopy[J].Journal of Materials Engineering,2008(10). |
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| Authors: | DING Xi-dong GUAN Jing-xin HUANG Long-fei WU Jun-han |
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