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1.
介绍了一种可用于实时监测直径0.2~1.0 mm激光核聚变靶球涂敷状态的光学系统的设计,系统采用环形LED照明系统以适合特殊的照明要求,用Petzval型物镜使500 mm处的微球清晰成像于CCD像面上,CCD输出的图像电信号经图像采集卡转换成数字信号,最后该数字信号由计算机进行处理,实现了系统对靶球膜层涂敷作业的自动监控,大大提高了涂敷效率。所设计的系统轴上点最大弥散斑直径为12.6 mm,轴外最大弥散斑直径为15.8 mm,整个视场的像质比较均匀,分辨率较高,对于波长522 nm的光线,场曲和畸变分别小于15 mm和0.012%,像质优良。 相似文献
2.
3.
基于PROFIBUS注塑车间分布式监控系统的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
随着塑料产品产量的增加,许多企业都建有一定规模的注塑车间.对车间内的注塑机进行有效的计算机监控管理,能及时掌握注塑机的运行状况,提高生产效率,提升企业信息化程度.采用一种基于PROFIBUS现场的总线技术,给出了注塑车间分布式监控系统的硬件组成原理、监控系统的功能及系统组态的实现,该系统可同时对多台注塑机进行现场及远程监控. 相似文献
4.
Growth characteristics and surface morphology of boron carbide films fabricated by ablating a B4C target in high vacuum with a traditional KrF excimer laser and a high brightness hybrid dye/excimer laser system emitting at the same wavelength while delivering 700 fs pulses are compared. The ultrashort pulse processing is highly effective. Energy densities between 0.25 and 2 J cm−2 result in apparent growth rates ranging from 0.017 to 0.085 nm/pulse. Ablation with nanosecond pulses of one order of magnitude higher energy densities yields smaller growth rates, the figures increase from 0.002 to 0.016 nm/pulse within the 2-14.3 J cm−2 fluence window. 2D thickness maps derived from variable angle spectroscopic ellipsometry reveal that, when ablating with sub-ps pulses, the spot size rather than the energy density determines both the deposition rate and the angular distribution of film material. Pulse shortening leads to significant improvement in surface morphology, as well. While droplets with number densities ranging from 1 × 104 to 7 × 104 mm−2 deteriorate the surface of the films deposited by the KrF excimer laser, sub-ps pulses produce practically droplet-free films. The absence of droplets has also a beneficial effect on the stoichiometry and homogeneity of the films fabricated by ultrashort pulses. 相似文献
5.
CRT显示器稳定性实验研究 总被引:4,自引:1,他引:3
用屏幕色度计对一台SONY-G520显示器的显色特性进行了测量,研究了其开机稳定性和短、中、长期内的色差及色度偏差。实验结果表明,开机后,显示器的亮度Y和色度x,y分别可在2h,30min和1h达到相对稳定状态,且在达到相对稳定后,在短、中、长期内的平均色差分别为0.0611,0.1469和1.2536CIELAB色差单位;在中期内,Y,x,y,L,a,b的平均偏差分别为0.0663,0.0008,0.0015,0.0695,0.4740和0.1766。通过对显示器稳定性的测量,为在对比度敏感测量和色貌模型、图像质量、图像感知模型评价等研究领域中用显示器进行实验研究奠定了基础。 相似文献
6.
7.
8.
Antimonide-based superlattices dedicated to the elaboration of opto-electronic devices have been studied by X-ray scattering techniques. In particular, specular and non-specular X-ray reflectometry experiments have been performed on two MBE-samples elaborated with different shutter sequences at the interfaces. The results have shown a limitation of the incorporation of Sb species in the subsequent InAs layer for one of the samples, as expected.Then, a study on a InGaAs-cap layer/(InGaAs/AlAsSb)N superlattice grown on a InGaAs/InP buffer layer by both specular X-ray reflectometry and High resolution X-ray diffraction is reported. In particular, the results have revealed the presence of a highly disturbed thin-layer on top of the MOVPE-made GaInAs, whose presence has been explained by In-concentration modification during the desoxidation procedure at the surface of the MOVPE-made GaInAs.Beside the results on the Sb-based heterostructures, the use of X-ray scattering metrology as a routinely working non-destructive testing method has been emphasized. 相似文献
9.
10.