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1.
本文简述了PDM1KW中波发射机的几起典型故障的分析和修理过程,并对相对应的部位进行详细分析。  相似文献   
2.
3.
详细说明了用微波反射光电导衰减(μ-PCD)测量碲镉汞材料(MCT)中少数载流子寿命的原理。μ-PCD系统对样品少数载流子寿命的测量范围为20ns至3ms,测量温度可以从80K到325K变化,整个系统的测量由计算机控制自动进行,可以对样品进行X-Y平面扫描测量并进行结果数据分析。同时,还报道了用μ-PCD技术测量液相外延MCT薄膜材料少数载流子寿命的结果。  相似文献   
4.
介绍了点滴瓶瓶帽模具的结构、工作过程,对型腔布置、浇注系统、顶出机构的设计作了说明.  相似文献   
5.
GB5029—85和GB1499—91分别对钢筋的反向弯曲试验作出了明确规定,其中GB5029—85中的2.3条规定:“试样应为交货状态,并不得和弯曲试验试样在同一根钢筋上切取”;GB1499—91的6.1条规定每批钢筋反向弯曲试验检验一个试样。笔者主张废除反向弯曲试验试样不得和弯曲试验试样在同一根钢筋上切取的规定,每批钢筋的反向弯曲试验的试样数量由一个改为二个。其  相似文献   
6.
1995年,我按照张维国先生《我的自制高保真音箱》(本刊总第7期)的做法,制作了一对内置超低音的三单元三分频音箱。 当时,初哥入门,误信经销商之言,将Hi-Fi的DN-B1分频器作DN-3000用,结果,做出来的音箱,声音非常单薄,干涩,生硬,距文中描述的相差十万  相似文献   
7.
碲镉汞的液相外延生长   总被引:6,自引:2,他引:4  
设计了一种使用良好的石墨舟 ,建立了一套能进行开管液相外延的系统 ,并利用此系统在 Cd Zn Te衬底上和在富 Te的生长条件下生长了不同 x值的 Hg Cd Te外延薄膜 .通过对外延生长工艺的控制 ,外延薄膜的表面形貌有很大的改善 ,残留母液大为减少 ,外延薄膜的组分比较均匀 ,其电学性能得到较大改善 ,Hg Cd Te外延薄膜与Cd Zn Te衬底之间的互扩散非常少 ,外延膜的晶体结构也较完整 .  相似文献   
8.
设计了一种使用良好的石墨舟,建立了一套能进行开管液相外延的系统,并利用此系统在CdZnTe衬底上和在富Te的生长条件下生长了不同x值的HgCdTe外延薄膜.通过对外延生长工艺的控制,外延薄膜的表面形貌有很大的改善,残留母液大为减少,外延薄膜的组分比较均匀,其电学性能得到较大改善,HgCdTe外延薄膜与CdZnTe衬底之间的互扩散非常少,外延膜的晶体结构也较完整.  相似文献   
9.
陈建才  孔金丞  马庆华 《红外》2011,32(3):19-22
开展了液相外延用碲镉汞母液晶锭的合成工艺优化研究.通过优化合成温度、合成时间、摇炉速率和淬火工艺,有效提高了碲镉汞晶锭的纵向组分均匀性.用改进工艺后合成的碲镉汞母液晶锭生长了28个外延薄膜样品,其组分平均偏差为0.95%,满足第二代红外焦平面探测器研制对探测器材料组分均匀性的要求.  相似文献   
10.
据笔者所知Ⅱ级钢筋抗拉强度不合格的问题在不同程度上困扰着一些企业的生产。究其原因,除了与生产工艺控制情况有关外,我国标准规定偏严也在一定程度上加大了生产的难度。现将对后者的思考笔录如下,供GB1499—91修订时参考。  相似文献   
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