合成氨装置甲醇洗净化工艺模拟计算的研究(Ⅰ)

本文介绍了甲醇洗工艺中部分气化冷凝、绝热闪蒸器和塔系模拟计算方法和结果。相平衡和焓模型采用修正的PR状态方程,方程中引入极性因子和采用二元相互作用系数与温度相关的二次加和形式混合规则。工艺采用五塔流程,全流程用相同的二元相互作用参数,热区两个塔用泡露点法,而冷区三个塔采用流量加和法进行模拟计算,得到的结果与某工厂的设计数据和生产实际数据十分吻合。     

加权三维Otsu方法在图像分割中的应用*

从信息散度角度出发,提出一种新的三维Otsu加权方法,对分布不均匀的图像做细致分割。由于三维Otsu中三个维度在分割中所起的作用不同,可以通过调整不同维度的权因子,使不同的图像都能得到很好的分割效果。最后利用加权的特点,将三维Otsu分解为三个一维Otsu,在加快运算速度,降低时间复杂度的同时得到了比较好的分割效果,使得加权方法更具有实际效用。     

谐波抑制与无功补偿装置控制技术的进展

有源电力滤波器（APF）、静止无功发生器（SVG）等作为新一代谐波抑制与无功补偿装置，其控制系统通常可划分为信号检测、稳定控制和底层驱动控制三大部分。本文结合现有的各种控制及检测方法对这三部分进行了较为全面的研究，并在此基础上进一步对其发展趋势进行了探讨。     

一种新型的基于单周控制的功率因数校正方法及实验研究

单周控制理论因其控制电路简单且不需要复杂的数学计算等优点目前已被广泛用于FACTS控制.本文提出一种基于单周控制的高性能功率因数校正(PFC)方法,用于对单相整流类负载进行功率因数校正和谐波治理有很大的技术优势.文章分析了基于单周控制的高性能PFC方法的电路拓扑和基本原理,推导了相应的单周控制方程,给出了主电路的主要参数(电感、直流侧储能电容)的设计和选取标准,建立了单周控制高性能PFC电路的大信号模型,并在此基础上进行了控制系统PI调节器设计,将控制系统校正为典型II型系统,消除了稳态误差,提高了抗扰性能,为系统的综合设计提供了理论依据.样机试验结果证明了理论分析和设计的正确性.     

水溶性煤基发光碳点的室温快速合成及其在Fe3+离子检测中的应用(英文)

碳量子点具有优异的光学性质，良好的水溶性、低毒性、原料来源广、成本低、生物相容性好等诸多优点，广泛应用于发光器件、生物检测、能源存储与转换领域，但在实际应用中还存在合成过程复杂、产率低等挑战。本文以煤为原料，以甲酸和双氧水为氧化剂，在室温下可大量合成煤基发光碳点，考查了氧化剂的添加量、反应时间对煤基发光碳点的产率及反光性质的影响，结果表明煤基发光碳点产率高达54%，且具有良好的水溶性、光稳定性、耐盐性和较高的发光量子效率。制备的煤基发光碳点可用于Fe³⁺离子的特异性检测，检测限低于600 n mol L^-1。该合成方法为煤的高附加值利用和设计开发煤基新材料提供了新途径。     

固定无级选路理论及应用

本文根据长途两级网中存在问题，指出采用固定无级选路技术的必要性，通过对固定无级选路原理的分析并结合两级网的网路组织情况，讨论了在长途网两个平面交换机实施固定无级选路的可行性及具体实施办法，还简单介绍了路由组织中选路技术的发展方向。     

试论新时期小水电的发展目标

新中国成立后,在几十年的建设和发展中,特别是农村社会的发展中,中国选择了小水电,这一选择无疑是正确的,是由中国国情决定的,也是小水电的作用所决定的.     

基于模糊分类的调制信号自动识别方法

本文研究了一种基于模糊分类的调制信号识别方法,即提取信号时域、频域、功率谱等统计特性,利用模糊分类器进行分类识别。计算机仿真试验表明,该方法在较低信噪比下也能正确识别,且不需要信噪比、载频和码元速率等任何先验信息。     

真空紫外辐照对Lumogen薄膜损伤及光学性能的影响

为研究Lumogen(C₂₂H₁₆N₂O₆)薄膜在真空紫外波段的光致发光特性及辐照损伤,采用热阻蒸发法,以氟化镁为基底制备Lumogen薄膜。使用真空紫外荧光光谱仪、原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)、紫外?可见分光光度计等仪器分别对薄膜的光致发光特性、荧光强度衰减变化、表面形貌、透过率等进行测试与表征。实验结果表明,真空紫外波段的最佳激发波长为160 nm;发射峰宽为500~620 nm,峰值位置是在528 nm处;在160 nm激发波长持续辐照20 h后,发射峰位置的荧光强度由快及慢地从8.76衰减为0.83,整体下降了90.5%;薄膜表面的均方根粗糙度从10.96 nm增加到14.96 nm;160 nm真空紫外光的高光子能量使Lumogen分子中的荧光助色团-OH断裂,薄膜表面受损,造成不可逆的破坏;被真空紫外光持续辐照后的Lumogen薄膜在250~450 nm波段内的透过率下降了约50%。研究结果表明,Lumogen薄膜在持续高能真空紫外光辐照下,薄膜表面会造成损伤,光学性能会下降,为其在紫外探测器件及航空航天领域的应用研究提供一定参考。