发射光谱法测定复合型电接触材料的成份

本文报道了采用固体稀释处理后，以摄谱法成功地分析了新型复合电触头材料粉体 Ａｇ８０（ Ｗ Ｃ７０ Ｔｉ Ｃ３０）１７ Ｃ３ 中主成份银、钨、钛的含量．其相对偏差为０．２６％ ，摄谱法本身的标准偏差为 ０．２９４．文中还对由于对试样进行固体稀释处理而可能引入的误差，进行了计算机模拟分析     

低粗糙度金刚石薄膜的制备及其光学性能的表征

采用热丝化学气相沉积（HFCVD）方法,在反应气压、衬底温度一定的情况下,通过改变碳源浓度以制备低粗糙度金刚石薄膜.扫描电镜（SEM）和原子力显微镜（AFM）测试结果表明,随着碳源浓度适当增加（从2％增加到3％）,金刚石薄膜表面晶粒尺寸减小到纳米量级,平均粗糙度从45 nm降低到21 nm,同时光学透过率下降.椭圆偏振光谱拟合结果显示,随着碳源浓度的增加,薄膜折射率n稍有偏离理想值.拉曼散射光谱显示随着碳源浓度的增加,薄膜中非金刚石相含量增加,一定程度上影响了薄膜的光学质量.结果表明,在表面粗糙度相差不大的情况下,薄膜的质量决定了其光学性质.