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在北京同步辐射装置(BSRF)设计建造了-套基于多层膜偏振元件的软X射线偏振测量分析装置,可工作在双反、双透、前反后透和前透后反四种工作模式,既可作为偏振测量装置,用于同步辐射光束线和多层膜偏振元件偏振特性测量,也可作为通用反射率计,用于多层膜和薄膜的反射或透射率测量,又可用于磁性材料的磁光效应研究等.利用自行研制的装置和光学元件对BSRF的3W1B光束线的偏振特性进行了系统的测量.测量结果指出,在206 eV时,输出光的线偏振度从起偏前的O.585上升到起偏后的0.995,同步光的线偏振度得到极大改善.利用非周期宽带Mo/Si多层膜开展了铁磁性材料的磁光法拉第效应测量,获得了Ni薄膜3p边附近(60-70 eV)的法拉第旋转角度,最大偏转角度在65.5 eV和68 eV分别为1.85±0.19°和-0.75±0.09°. 相似文献
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