如何提高企业工艺技术水平的探讨

大力应用先进适用技术改造传统产业,是快速提升传统制造产业的捷径,工艺技术是制造业企业核心竞争力的核心,是影响企业产品质量的重要因素.企业领导要重视工艺工作,建立完善的工艺工作体系,推行先进的工艺技术标准,加强科学性的工艺试验,并加强工艺技术及管理人员队伍建设,这是提高企业工艺技术水平的重要途径.本文以实例为佐证对此作了分析和论述.     

浅谈高炉冷却壁铸造中的尺寸保证

冷却壁为高炉炼铁设备，具有支撑耐火材料、冷却炉壳，以及维持合理炉形的重要作用。过去，我公司主要生产中小高炉冷却壁。近年来，随着我国钢铁产业的发展，中小高炉逐步被淘汰，大高炉日趋增多，而大高炉用冷却壁，其制作要求相对苛刻，铸造难度大，主要是因其进出水管形式为多进、多出，外形安装尺寸保证问题一度成为铸造大高炉冷却壁的难题。尤其是近几年来，大高炉炉壁开孔多为计算机提前开孔，因此冷却壁的制作必须满足计算机开孔的需要。多进、多出形式的水管其累积误差很难避免，按常规的生产操作方法，根本无法达到其安装要求。     

高炉冷却壁制作中的尺寸保证

主要针对冷却壁制作过程中尺寸保证方面容易出现的问题,通过一些经验数据、模板化操作以及合理的采用活块形式等方法,来确保制作的精度,达到很好的效果。     

航空国产新研电子元器件应用瓶颈研究

针对目前国产新研电子元器件在航空型号中研多用少的问题,从立项需求、设计、工艺、检测覆盖率、参数体系、研制进度等方面深入分析了国产新研电子元器件在航空型号中应用的制约因素,研究了航空国产新研电子元器件的应用瓶颈,进而提出航空国产新研电子元器件的应用验证及国产化替代思路,这对促进国产新研电子元器件的自主可控,逐步完善航空型号用国产新研电子元器件应用体系具有指导作用。     

高速搅拌轴导向套使用中存在的问题及其处理

介绍了高速搅拌设备在运行过程中存在的维护量大、轴承损坏率高、轴挠曲等问题。为了解决该设备在运行中出现的问题,对关键部位进行了实验检测分析,对导向套进行了改进设计,从而解决了搅拌轴存在的问题,降低了该设备的维修成本。     

一种用于FPGA连线资源测试的配置方法

FPGA在实际应用中,故障发生于互连资源的概率远大于逻辑功能块其他故障概率,因而FPGA连线资源测试成为保证其在航空航天等领域高可靠性应用的极为重要的手段,对FPGA连线资源进行测试,首先要根据所要测的资源来配置电路。传统的基于HDL的配置方法存在待测资源不可控的问题,论文以Xilinx公司Spartan-3系列FPGA连线资源为研究对象,提出了一种基于XDL的FPGA配置方法,并采用BIST测试结构,通过C++代码方式生成XDL程序,实现对FPGA有CLB的行列双长线资源、有CLB的行列智能型长线资源、无CLB的行列双长线资源及无CLB行列智能型长线资源的测试,为其它测试配置电路结构的设计及其xdl程序编写奠定了基础。     

电磁继电器电测失效分析技术研究

阐述了电测失效分析技术,利用该技术分析了在工程上失效的电磁继电器的主要失效模式及失效机理,并根据失效机理提出了可靠性改进措施。结果表明,电测失效技术在一定程度上可缩小故障隔离区,提高失效分析的效率。     

制药工业废水中CODCr与BOD5的相关性及应用研究

建立一种只需测定工业废水中化学需氧量（简称CODcr），就可推算出生化需氧量（BOD5）的方法，对21个样品进行分析测定CODcr和BOD5，经线性回归找出两者的相关性；试验表明CODcr和BOD5间具有良好的线性相关性，其中r=0.9958，该方法应用于制药工业废水的处理和控制，具有简便、适应性好、省时省力等优点。     

“集成电路可靠性分析技术”课程教改探索

针对“集成电路可靠性分析技术”课程教学模式的现状和存在的问题,明确思政育人目标,通过四条主线融入思政元素,形成“微思政”实施策略。在“传统+讨论式”教学、“对分课堂”教学和项目驱动式教学的基础上,构建了三七分课堂混合式教学模式,实现教学转变;以“破坏性物理分析”为例开展实践,结果表明：该教学方式可优化教学效果,有效提升学生的综合能力。     

一种用于 FPGA 连线资源测试的配置方法磁

FPGA 在实际应用中,故障发生于互连资源的概率远大于逻辑功能块其他故障概率,因而 FPGA 连线资源测试成为保证其在航空航天等领域高可靠性应用的极为重要的手段,对 FPGA 连线资源进行测试,首先要根据所要测的资源来配置电路。传统的基于 HDL 的配置方法存在待测资源不可控的问题,论文以 Xilinx 公司 Spartan‐3系列 FPGA 连线资源为研究对象,提出了一种基于 XDL 的 FPGA 配置方法,并采用 BIST 测试结构,通过 C ＋＋代码方式生成 XDL 程序,实现对 FPGA 有 CLB 的行列双长线资源、有 CLB 的行列智能型长线资源、无 CLB 的行列双长线资源及无 CLB 行列智能型长线资源的测试,为其它测试配置电路结构的设计及其 xdl 程序编写奠定了基础。