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近年来,随着空间科学、天体物理学、受控核聚变、等离子体物理和紫外激光研究的发展,迫切地需要把光谱辐射标准由红外—可见一近紫外延伸至真空紫外乃至软X射线波段。同步辐射不仅可作为紫外、可见、红外波段光谱辐射光源,同时还可作为真空紫外和软X射线波段的标准光源,为各种辐射光源和探测器进行光谱辐射标定。在我国的国家同步辐射实验室二期工程中正在建设的光谱辐射标准及计量测试线站,它包括两条光束线和三个实验站,本文重点描述在110—400nm的紫外和真空紫外光谱范围建设的光源辐射标准及传递标准专用线站。 相似文献
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中阶梯光栅光谱仪的光学设计 总被引:5,自引:4,他引:1
为了在更宽波段范围内获得较高的分辨率,实现全谱直读,对中阶梯光栅光谱仪进行了研究。简述了中阶梯光栅及中阶梯光栅光谱仪的基本原理,分析并比较了这种光谱仪与普通平面闪耀光栅光谱仪的区别。利用光学成像原理与消像差理论设计了Czerney-Turner结构形式的中型高分辨率中阶梯光栅光谱仪原理样机的光学系统。该光学系统工作在原子谱线最为密集的200~500nm波长处;为简化计算,在设计中消除了350nm波长的所有像差;光线对中阶梯光栅在准Littrow条件下入射,以获得高衍射效率;使用折反射棱镜作为交叉色散元件来分离重叠的级次,在CCD探测器上获得了二维光谱面。该光学系统有较好的平场特性及点对点成像能力,在整个工作波长分辨率可达到2000~15000,满足设计要求。该仪器可用于原子发射和吸收光谱的研究工作,通过替换不同的探测器及增加外围电路与软件平台,仪器的工作性能可进一步提高。 相似文献
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凹面光栅衍射效率测试仪精度分析和优化 总被引:1,自引:1,他引:0
分析和优化了凹面光栅衍射效率自动测试仪的测量精度,以提高凹面光栅相对衍射效率测量结果的准确性.根据凹面光栅相对衍射效率测量原理,对凹面光栅出射光谱增宽、衍射光束截面变化、光源辐射亮度的控制和测量波长同步精度等影响测量准确性的因素进行分析,给出了必要的运算关系式.采用回归分析等数学方法,基于大量实验数据建立了测量结果的优化公式,并将该公式编入测量程序,实现了在测量结束的同时自动优化测量结果.实验表明,经过优化后的测量值更加准确,与相对衍射效率理论值的偏差均在士2.5%以内,有效提高了仪器的测量精度.该方法操作简单,无需添加或改动仪器的任何部件,可满足仪器实时性强、测量准确的要求. 相似文献
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用于红外晶体双折射测量的单1/4波片法 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种基于单1/4波片法的测量方法以实现红外波段光学晶体双折射光程差的精确测量。采用厚度差小于一个周期厚度的两个样品进行比对,有效克服了单1/4波片法测量厚度的限制。依照此原理研制了测试波长为3.39μm的晶体双折射测试设备。应用琼斯矩阵理论,推导了存在主要误差因素时的信号光强解析表达式,并由此分析了起偏器方位角误差、1/4波片定位精度、样品方位角偏差、检偏器旋转定位精度对测量结果的影响,综合评价了本测量方法的精度。实验结果表明,应用研制的设备实测标准1/4波片的双折射光程差误差为0.003 76μm,相对误差为0.44%,满足系统要求。得到的结果表明,采用基于单1/4波片法的新测量方法能够有效、精确测得红外晶体的双折射光程差。 相似文献
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皮肤反射式共聚焦显微镜是一种重要的皮肤影像学诊断工具,其采用共振型振镜扫描成像会带来非线性畸变,为校正这种畸变,提出一种像素值反正弦过采样信号重建的RCM图像畸变校正方法,对间距为20 m的矩形光栅扫描成像实验表明,在校正畸变前光栅图像间距的标准差为7.78 m,图像的畸变率达到38.9%,经过像素值反正弦过采样信号重建后,光栅图像间距的标准差缩小为0.85 m,畸变率缩小到4.2%。结合分辨率板和实际人皮肤成像情况,表明文中提出的畸变校正方法能够较好地校正共振型振镜引起的图像畸变,满足人皮肤实时无创影像学诊断要求。 相似文献
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设计了一种用于半自动生化分析仪的快速多波长分光光度系统.系统采用了平面衍射光栅、专用阵列探测器、对数放大器以及高稳定恒流源,有效地提高了仪器的整体性能,同时降低了生化分析仪的成本. 相似文献
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尝试在大型衍射光栅刻划机中使用气浮导轨承载金刚石刻划刀具系统运行。气浮导轨同时承担刀具系统的承重与导向任务,由于使用气体作为润滑剂而接近零摩擦状态,可以避免触点磨损及低速爬行现象。分析了气浮导轨工作过程中产生的误差及该误差对刻划刀具运动轨迹的影响,并使用双频激光干涉仪测量刻划过程中刻划刀具运动的直线度误差。测量结果表明,金刚石刀具系统单向行程400 mm时,该误差约为200 nm,小于使用石英导轨承载刀具系统时的误差,同时在高频振动方面有明显改善。刻制一段79 gr/mm,400 mm×500 mm的中阶梯光栅,观察其衍射光斑并使用照度计检测得其不同位置杂散光强度为0.2‰~5‰,实验结果表明使用气浮导轨承载刻划刀具可以满足光栅刻划精度要求。 相似文献
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唐玉国 《沈阳建筑工程学院学报(自然科学版)》1995,(2)
阐述4块矩阵法求长方阵减号逆的理论,给出长方阵化为不同形式的4块矩阵时各自减号逆相应的简化计算公式. 相似文献