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一种新的亚像素边缘检测方法及其性能研究 总被引:7,自引:0,他引:7
本文介绍一种可对已知形状的曲线进行精确到亚像素的边缘检测方法。该方法是从图像量化的原理出发,利用像素边在其切线方向上的信息来计算精确到亚像素的边界。 相似文献
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