用能量色散X荧光法测定磁盘磁层厚度

用放射源~(238)Pu激发磁盘磁层中铁的特征X荧光来测定磁层厚度,具有快速、非破坏、精度高等优点。本文叙述测量原理、探测装置考虑、干扰因素的排除及数据处理。测定厚度范围为0.5—15μm。当厚度大于1μm时,测量精度好于5％。     

基于微机的磁盘磁层测厚仪

磁盘存贮器是电子计算机的主要外部设备,高密度大容量磁盘存贮器的研制和生产是发展计算机事业的重要组成部分。磁盘磁介质层的厚度,直接影响磁盘的信息记录密度和输出信号的幅度,是检验磁盘的一个重要参数。随着记录密度的不断提高,要求磁盘的磁层越来越薄。一般,涂敷于基底上的Fe_2O_3仅有零点几到2μm左右,采用传统的测厚技术难于测量。我们利用X荧光法并配用微机研制成磁盘磁层测厚仪,解决了这一测量问题。     

精密钛涂层测厚仪

本文介绍一种用微机控制的精密钛涂(镀)层厚度测定仪,测量范围为0.1—10μm,最小测量面直径为3mm,精度优于±5％。     

精密钛涂层测厚仪

随着金属材料表面的处理工艺发展和提高,许多机器和仪器的金属构件以及装饰物表面都涂(镀)一层钛合金,以提高耐磨性、抗腐蚀性,增长使用寿命,以及增添外观美和使用价值。对其涂层的厚度和涂复工艺均有一定的要求。 测量涂层厚度的方法有多种,各有其特点和使用范围。通常采用金相法、化学分析法     

手表零件镀层测厚仪

在手表生产中,由于机芯零件的电镀层厚度难以控制,影响手表的装配精度、走时准确和使用寿命。尤其在每年黄梅季节,常发现零件生锈报废和手表返修除锈,这不仅影响手表美观,而且影响手表的产量、质量和成本。为了有效地控制手表零件的镀层厚度和贵重金属用量,并能指导电镀工艺,迫切需要对手表零件镀层厚度作快速无损测量。     

微机计数器接口和数据获取程序

在需要对核事件脉冲信号进行计数,又要使用微机对其数据处理的场合,一种是按传统的办法,把信号送到专用的定标器进行计数累积,当计数结束,再把定标器累积的数据送别微机进行处理;另一种办法是直接利用微机兼作定标器的功能,即每当一个信号来到时,就向     

微机在核计数系统中的应用

本文介绍一种基于微机的采用软-硬件结合传送方式的智能计数系统及其管理程序。接口电路所需的硬件很少,又能获得很小的分辨时间(<0.1μs)。管理程序使仪器具有一定编辑能力,能定时或定误差地进行数据获取,显示已获取的数据并打印出结果。这种智能计数器具有在线数据处理能力,其性能价格比比一般定标器优越得多。     

高分辨时间快符合电路

本文介绍一种符合分辨时间小于0.5ns、计数率大于5Mc/s、传输时间约40ns的快符合电路。