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在能量色散X射线荧光分析中,用实验方法直接测定样品的吸收系数,进行基体效应的校正是一类行之有效的方法。但以往都是根据某一特定能量的射线穿过样品时的吸收过程来测定吸收系数。本文利用样品中特征谱线强度随厚度变化的规律(饱和曲线)在中间层厚度下计算吸收系数。较直接地反映了样品特性。这不但对吸收效应的校正有效,而且在一定条件下对增强效应也有校正作用。 文章着重讨论了综合灵敏度因子KI_0的实际意义。并提出用实验方法测定KI_0和吸收系数μ从而进行“准绝对测量”的想法。 文章最后列举了不同情况下进行校正的实验结果,以证明方法的正确性。 相似文献
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通常野外环境下使用γ谱仪的工作温度范围为-20~50℃.NaI谱仪易受温度变化影响,当成形窄脉冲时尤为显著.本文设计的一种数字稳谱新方法可对每个脉冲进行实时幅度校正,在不增加系统复杂度的同时利用137Cs参考源的两个特征峰进行实时稳谱.实验结果表明,在-20~50℃温度范围内,该方法可有效改善NaI谱仪的温度稳定性. 相似文献
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数字多道中连续采样用的Flash ADC一般微分非线性(DNL)较差,且有效位数低于转换位数.由于数字多道系统中通常在AD转换之后再进行数字滤波,因此可通过数字滤波方法来改善ADC的性能影响.文章以梯形成形为例分析了数字滤波器对于系统精度及DNL性能的影响,并为改善性能提出了梯形成形参数设计的原则. 相似文献
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