扫描俄歇探针及其在金相研究中的应用

<正> 由于工业技术对金属材料不断提出新的要求,人们需要更加深入细致地研究金属与合金的本质。相应地,作为研究金属材料的最基本、应用最广泛的金相研究方法,也应该寻求和采用更多、更能反映本质的工具和方法。现在,扫描电镜/能谱分析、电子探     

Cr-Mo钢条带状断口的俄歇电子能谱分析

<正> Cr-Mo钢大型锻件的调质毛坯,在进行断口和机械性能检验时发现,取自锻件心部的试料出现条带状断口(图1)。这种断口宏观上呈分层细条状,在日光下可见条带闪光。扫描电镜研究表明,肉眼所看到的断口上的分层条带,微观下为成行排列的沿晶棱面(图2),棱面尺寸约15～60μm。在两行沿晶棱面之间,则为正常的韧窝+准解理断     

95W-Ni-Fe 合金工艺缺陷的 SAM 和 XPS 分析

藉助扫描俄歇探针、Ｘ射线光电子谱等分析了９５Ｗ－Ｎｉ－Ｆｅ合金碳污染和氧化的本质。发现，碳污染试样中碳的化学状态主要为石墨，少量为铁或镍的有机化合物，这些物质的界面富集使材料脆化。钨合金氧化后，氧大量富集于钨／粘结相界面，使沿着该界面的断裂更容易发生。     

Au-Ni-Kovar合金系统基底元素表面偏聚的SAM和XPS研究SCIEI

本文采用SAM和XPS对实用Au-Ni-Kovar合金系统热处理样品(250—350℃,0.5—1.5h)进行了基底元素穿透Au层的表面偏聚研究,给出了这一复杂系统中Ni,Co表面偏聚机理的直观证据,即Ni,Co主要是通过晶界扩散穿透Au层而后以表面扩散覆盖镀Au表面的;表面偏聚元素化学态的研究则不仅表明,氧的吸附和氧化反应是Ni,Co表面偏聚的驱动力,而且发现,上述偏聚会引起样品表面吸水的现象。     

SAM法研究银透过金镀层的表面富集

基底元素透过镀层于表面富集可使镀层失去作用和意义,导致元、器件失效。对银上镀金样品的SAM法研究结果表明,常温下这种富集主要是基底元素通过缺陷和晶界扩散穿透镀层再行表面扩散而遍及表面的;镀件的表面吸附与表面富集的发生密切相关。文中给出了随时间的推移,银于表面富集情况的清晰的俄歇相。已发展出新的工艺,可以明显地延缓基底元素透过镀层到表面的富集。     

液相烧结钨合金快冷增韧的俄歇分析

用扫描俄歇探针 ( SAM)结合工艺试验研究了烧结态和经真空热处理的 95W-Ni-Fe合金冷却速度对其性能的影响。结果表明 ,磷是引起该合金界面脆化的重要因素 ;快冷可以明显抑制磷的界面偏聚 ,有效提高该合金的延性和韧性。     

液相烧结钨合金断裂与界面偏聚的研究

磷是W-Ni-Fe系液相烧结钨合金中脆化界面的主要元素,它在各界面上的偏聚浓度是很不均匀的,以钨颗粒-粘结相界面上靠近钨颗粒一侧浓度最高。快冷可以明显抑制磷的界面偏聚,从而提高界面结合强度。氧、钾、硫可以在合金中形成零散分布的极高浓度富集区,其脆化作用不可忽视。     

俄歇电子能谱分析及其在金属材料研究中的应用

<正> 材料微观结构的不均匀性往往对材料性质产生重大影响,例如杂质或(和)合金元素向界面(如自由表面,晶界等)狭窄区域偏聚,使韧性材料变脆或造成金属腐蚀。由于偏聚的范围一般只有几个原子层,所以电子探针、自射照相、化学浸蚀等技术均不能检测。近十年来,俄歇电子能谱分析(AES)已经发展成为研究材料表面性质的有力工     

炮管内膛镀铬失效分析

某火炮身管内膛镀铬后,在验炮试射过程中掉铬严重,致使20～50％炮管超过规定标准而全部重镀。我们采用俄歇等分析方法分析了掉铬区、过渡区与未掉铬区镀层与基体界面间的杂质元素含量,确定掉铬原因是镀前被镀界面清洗不净造成的。采取调整清洗工艺、改进清洗工装并改用高质量的除油石灰后,使产品的合格率达到了标准规定要求。