分子束外延PbTe/Cd 0.98 Zn 0.02 Te异系材料的微结构特性研究

采用分子束外延方法在Ⅱ-Ⅵ族Cd0.98Zn0.02Te(111)衬底上实现了异系Ⅳ-Ⅵ族半导体(PbTe)的外延生长.原子力显微镜(AFM)的表面形貌表征表明,PbTe表面形貌主要由三角形台阶线和螺旋形台阶面构成;理论计算表明,螺旋形台阶面的分布受到滑移位错弹性应变能的影响.通过高分辨透射电镜(HRTEM)观察,发现在PbTe和Cd0.98Zn0.02Te界面处存在Frank位错.分析表明,这些Frank位错在运动过程中会形成不同的位错组态,位错组态的相互作用是表面上形成三角形台阶线和螺旋形台阶面的主要原因.     

Pb1-xMnxTe稀磁半导体外延薄膜的光学特性

采用分子束外延(MBE)方法在BaF2(111)衬底上生长了不同Mn组分的Pb1-xMnxTe(0≤x≤0.012)稀磁半导体薄膜.通过波长为3.0~11.0μm中红外透射谱的分析并应用透射光谱上干涉峰峰值的位置计算获得了Pb1-xMnxTe薄膜的折射率,由最小平方根拟合得到折射率的一阶Sellmeier色散关系.在吸收边附近,通过直接跃迁吸收系数与光子能量的关系外推得到其光学带隙.结果表明,在中红外区域其折射率随着Mn含量的增加而减小,其光学带隙则随着Mn含量的增加而增大,在温度T=295K时,随着Mn含量x由0变化到0.012,其光学带隙Eg由0.320eV增加到0.370eV.     

混凝土实际生产中强度大幅下降的原因探究及其解决方案

本文根据混凝土公司实际生产中普遍存在的混凝土强度突然下降的情况,分析了导致强度下降的各种可能因素,设计了相关专题试验进行验证,并根据试验数据指出影响混凝土强度的各种因素,试给出混凝土生产中强度突然下降的解决方案,并提出了预防措施。     

Pb1-xSrxSe薄膜材料的微结构和光学特性

采用分子束外延的方法在BaF2衬底（111）上制备出了高质量的Pb1-xSrxSe（0≤X≤0．050）薄膜．X射线衍射结果表明，Pb1-xSrxSe薄膜为立方相NaCl型晶体结构，没有观察到SrSe相分离现象，薄膜的取向为平行于衬底（111）晶面．薄膜晶格常数随Sr含量的增加逐渐增大，Sr含量由Vegard公式得到．再用理论模拟Pb1-xSrxSe薄膜透射光谱的方法得到了相应的带隙．最后通过介电函数模型拟合得到了PbSe和Pb1-xSrxSe薄膜在光子能量位于基本带隙附近的折射率n和吸收系数a．     

PbTe薄膜表面氧化机理研究

用分子束外延方法在BaF2（111）衬底上生长了PbTe单晶薄膜,原子力显微镜（AFM）的表面形貌表征显示PbTe表面具有单原子层的平整性,并观察到由螺位错形成的螺旋台阶面。高分辨X射线衍射（HRXRD）测量得到PbTe（111）衍射峰的线宽〈100afc sec,表明薄膜具有优良的晶体结构特性。然后将样品暴露于大气环境中3个月后,用X射线光电子谱（XPS）分析了PbTe表面的氧化机理,发现PbTe表面氧化形成了PbO和TeO2,接着将样品在超高真空中加温,同时测量样品表面的Pb、Te、O元素价态、束缚能、含量等参量随温度的变化,发现在温度达到475℃时PbTe样品表面的氧化层已除去,获得了较干净的PbTe表面,为PbTe光电器件工艺提供了实验依据。     

机制砂石粉在干粉砂浆中的应用

通过大量试验,研究了在机制砂生产过程中产生的石粉的活性;用石粉取代传统干粉抹灰砂浆配合比中50%的粉煤灰和完全取代粉煤灰后各项性能指标、强度及施工性能;传统干粉抹灰砂浆配合比的各项性能指标、强度及施工性能。通过对比,指出机制砂生产过程中产生的石粉可以完全取代传统干粉抹灰砂浆配合比中的粉煤灰,取代后对干粉砂浆质量不仅没有任何影响,而且质量还有所提高,同时可以给干粉砂浆生产企业带来巨大的经济效益。