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工业技术   2篇
出版年
  1993年   1篇
  1983年   1篇
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本文扼要叙述了利用激光干涉仪动态测量高精度线纹尺的方法与同时用比长仪测量线纹尺的结果进行了比较,结果十分接近,从而使当前大量的激光干涉仪拓宽了用途。  相似文献   
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本文用He-Ne激光633nm的两条Zeeman超精细结构63299074和6329.9216进行后波测距。两条谱线只差0.014,  相似文献   
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