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本文运用扫描电镜(SEM)技术,对石斛兰在养分胁迫条件下叶片的表面结构作了扫描观察。发现当养分胁迫时,叶表面角质层花纹发生改变,叶片气孔形状,数量均受养分营养状况的制约。缺S时叶片角质层被剥蚀,缺K时叶片表面有结晶状物质。  相似文献   
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养分胁迫条件下石斛兰叶片表面结构的电镜观察   总被引:3,自引:0,他引:3  
本文运用扫描电镜(SEM)技术,对石斛兰在养分胁迫条件下叶片的表面结构作了扫描观察。发现当养分胁迫时,叶表面角质层花纹发生改变,叶片气孔开头,数量均受养分营养状况的制约。缺S时叶片角质层被剥蚀,缺K时叶片表面有结晶状物质。  相似文献   
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